本網訊 6月12日，業界領先的半導體器件供應商兆易創新GigaDevice宣布，將攜多款數字能源解決方案，參加6月13日-15日在上海國家會展中心舉辦的SNEC第十七屆(2024)國際太陽能光伏與智慧能源(上海)展覽會(展位：5.1H館D535)，集中展現其在光伏、儲能和充電樁、工業及通訊電源等領域的前沿技術實力與創新成果。
AI直流拉弧檢測方案，保障光伏應用安全
光伏發電系統在將太陽能轉化為電能的過程中，可能會因灰塵積累或設備老化等因素導致光伏板表面出現接觸不良或短路等故障，進而引發拉弧現象。拉弧是一種由顯著電壓差引起的空氣電離現象，其產生的高溫高壓效應不僅會對光伏板造成損傷，降低能量轉換效率，還可能會引發火災等安全事故。因此，實時檢測光伏系統中的拉弧現象對光伏的安全應用而言至關重要。
兆易創新推出的AI算法直流拉弧檢測方案，采用高性能GD32H7系列MCU，其在500K采樣率下可以支持多達12路ADC通道的拉弧檢測實時AI推理能力，算法使用深度卷積神經網絡，支持對1024、2048和4096采樣點的實時檢測，模型大小僅占用1.7KB的Flash空間，單次推理耗時不超過0.6毫秒，能夠對直流拉弧現象即時響應。模型還可以兼容不同硬件采集的數據，兼容0~40A光伏組串電流，實現100%準確性。
與此同時，該方案還提供數據采集工具和一鍵訓練工具。數據采集工具用于采集電弧信號和正常信號，并具備對已部署的模型進行檢測評估的功能。一鍵訓練工具則利用大量數據，訓練并生成拉弧檢測AI模型，并支持一鍵生成可編譯、運行的電弧檢測代碼，確保在各種場景中均能準確識別電弧特征，減少漏報和誤報的風險。此外，方案搭配有一顆16位外部ADC，支持8路外部ADC采集，以滿足多種應用場景需求;并集成內存卡和基于GD32VW553的Wi-Fi模塊，可自動上傳數據至云平臺;預留串口和CAN接口，方便應用擴展。更值得一提的是，該方案還支持云端數據收集、云端訓練和模型參數的OTA升級，這意味著用戶可以通過云平臺持續優化和更新模型，以適應各種復雜多變的工作環境。
雙向儲能逆變器方案，讓能源利用更加高效便捷
近年來，隨著戶外電力和應急備用電源需求的激增，便攜式儲能電源正迅速成為市場新寵。這一趨勢得益于雙向儲能逆變器的創新應用，它能夠把來自電網或光伏等可再生能源的交流電轉換為電池存儲的直流電，同時也能將電池中的直流電轉換回交流電以供各類電器使用，有效提升能源的利用率和使用的便捷性。
兆易創新基于GD32E50x系列MCU的雙向儲能逆變器方案，能夠實現離網放電和并網充電功能。方案通過兩顆GD32E50x系列MCU控制三級架構(LLC + Buck/Boost + 逆變/PFC)，確保了系統的高效性和穩定性。其LLC的開關頻率為100kHz，Boost/Buck和逆變/PFC部分的開關頻率均為20kHz。在離網供電模式下，可將20V至27.2V電池電壓輸出為220VAC市電電壓，最大功率可達1kW;在并網充電模式下，可將220VAC市電電壓，輸出為24V直流電壓用以給電池包充電，最大功率達500W。該方案可適用于戶外露營、航拍攝影、移動辦公、應急充電、應急救災、醫療搶險等多種便攜式儲能電源的應用場景。
500W PFC + LLC數字電源方案，促進能源管理智能化提升
依托先進的數字控制技術，數字電源通過精準地調控電壓、電流和功率等關鍵參數，能夠為電子設備提供穩定、精確的電力供應;其內置的智能化監控和故障診斷系統，也有助于增強電源系統的可靠性和安全性，并有效減少維護成本。
兆易創新推出的500W數字電源方案采用有橋PFC+半橋LLC拓撲，PFC部分使用GD32E230系列MCU，輸入220V交流電，輸出415V直流電壓;LLC部分使用GD32E50x系列MCU，輸入415V直流電壓，輸出24V直流電壓，并采用SHRTIMER控制LLC MOS管的頻率變化獲取更高的控制精度。這款數字電源方案滿載PF值大于0.99，輸出紋波小于±1.5%，包含輔助電源的整機最大效率可達90.85%，能夠廣泛用于電機控制、設備供電、LED燈組供電等場景中。
以“芯”為引擎，加速數字能源發展進程
數字能源技術的迅猛發展正在重塑能源管理的格局。面對日益復雜的能源管理系統，作為核心器件之一的微控制器需要具備更強大的計算能力和更敏捷的響應速度，以應對復雜的數據分析和自動化控制的高要求。兆易創新GD32 MCU憑借在性能、集成度和安全性等方面的顯著優勢，不僅能充分滿足多樣性應用需求，更通過不斷的技術革新，為行業發展注入活力。
在SENC展會期間，兆易創新還將帶來90W Buck可調數字電源、460W交錯CRM PFC服務器電源、1kW光伏MPPT鋰電池模塊、無線能源監控通訊方案等眾多新型數字能源解決方案。兆易創新的工程師也將在現場向與會觀眾介紹更多關于產品的亮點及創新應用，并提供專業的技術咨詢與服務。同時，兆易創新還將于6月14日10:45-11:00在“全球光儲融合前沿技術大會”中帶來“基于GD32H7系列高性能MCU的直流拉弧檢測方案”主題演講(國家會展中心上海洲際酒店大宴會廳2)。誠邀各位合作伙伴聆聽我們的演講并參觀蒞臨5.1H館D535展位。
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